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美國GE水密封體直探頭IAP15.6.2
詳細(xì)信息品牌：美國GE 型號(hào)：IAP15.6.2 加工定制：否 用途：用于檢測小缺陷 是否進(jìn)口：是 加工定制：否 美國GE水密封體直探頭IAP15.6.2
美國GE水密封體直探頭 A-..和IAP-..：用于由金屬和非金屬材料制成的零部件中*小缺陷的探測，有非常高的分辨率，這些缺陷在零部件表面下分布展開：例如半導(dǎo)體基體、電氣插頭和表面保護(hù)層中的材料分離、氣孔和雜質(zhì)等。同樣地，它還可以應(yīng)用于擴(kuò)散焊接、電阻焊接和粘合焊接等的測試，以及由陶瓷、粉末金屬、鈦和其它合金制成的預(yù)制成型零部件的測試。
特性：極好的分辨率和非常好的缺陷探測性
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
= 提供探頭數(shù)據(jù)表
= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見第4頁中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號(hào)。
所有探頭都有點(diǎn)聚焦或線聚焦形式（請(qǐng)注明焦距）。其它設(shè)計(jì)根據(jù)要求確定。類型
[訂購號(hào)碼]D [mm] f [MHz] AB [mm] N F [mm] / 近場分辨率1)
[mm]聲束形狀
編號(hào)備注 草圖 缺陷探測的高分辨率探頭，UHF插座，特性帶寬：80% IA5.8
IAP5.12.6
IAP10.6.3
IAP15.6.212.7
19
9.5
9.55
5
10
1560-190
115-225
55-130
40-65130
150
75
50ZYB 0.5Ø in 3
ZYB 0.5Ø in 1.5
FBB 0.4Ø in 1.3
FBB 0.4Ø in 1.05-12.7
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-點(diǎn)聚焦
點(diǎn)聚焦
點(diǎn)聚焦類型39
類型40
類型39
類型39帶固定電纜的沖擊波探頭，特性帶寬：100% H1N
H2N20
201
228-156
50-26764
127FBB 5Ø in19
FBB 2Ø in131-20
2-20類型36 H2K
H5K
H10K10 2
5
1014-77
34-190
68-38032
80
160FBB 2Ø in6.5
FBB 2Ø in4
FBB 2Ø in22-10
5-10
10-10類型37 H5M
H10M
H10MP15
H10ML155 5
10
10
108-52
16-104
10-23
10-2320
40
15
15FBB 2Ø in3
FBB 2Ø in1.5
FBB 2Ø in1.5
FBB 2Ø in1.55-5
10-5
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-點(diǎn)聚焦
線聚焦類型38 帶固定電纜的寬帶探頭，特性帶寬：80% L1N
L2N
L2K
L4K
L5K
L5M20
20
10
10
10
51
2
2
4
5
528-156
50-264
14-77
28-154
34-190
8-5263
127
32
64
80
20FBB 2Ø in24
FBB 2Ø in12
FBB 2Ø in6
FBB 2Ø in5
FBB 2Ø in3.5
FBB 2Ø in2.51-20
2-20
2-10
4-10
5-10
5-5類型36
類型36
類型37
類型38
1) 注意第5附件描述 類型 備注 探頭電纜（2米）
H..K進(jìn)行接觸測試
的延遲線
耦合帽PKI2
承索用于IA..和IAP..
承索
對(duì)于干耦合見36頁
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測
·耦合一致性好，檢測重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
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聯(lián)系方式
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
- 傳 真：0755-83986906
- 郵 箱：taili668@vip.163.com
- 郵 編：518172
- 地 址：深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場A2棟13D室
- 網(wǎng) 址： https://taili668.cn.goepe.com/
http://m.zghigo.cn
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測儀
- 超聲波測厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測儀
- 鈍化膜測試儀
- 附著力測試儀
- 相控陣探傷儀
- 球化率檢測儀
- 地下管線探測
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測試儀
- 矯頑力測量系統(tǒng)
- 鐵素體含量測試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測系統(tǒng)
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計(jì)量測試儀
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環(huán)境暖通測試
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光纖通信測試
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電子電工測試儀
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其他
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