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美國GE貝克休斯低頻探頭K0.25G
詳細(xì)信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：K0.25G 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國 美國GE貝克休斯低頻探頭K0.25G
應(yīng)用
•結(jié)構(gòu)規(guī)則簡單的大型工件檢測
•鍛件、坯料檢測
•板材、棒材、方型材
•容器、機(jī)器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測
功能特和優(yōu)勢
•歐式型號具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標(biāo)準(zhǔn)探頭連接器安裝在側(cè)面，頂部接口可選
•美式型號具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 保護(hù)膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護(hù)膜可無限期延長探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進(jìn)行檢測。
– BNC 連接器，側(cè)面或頂部安裝
這些頻率低于0.5 MHz的探頭用于測試具有強(qiáng)聲波吸收特性的材料如陶瓷戽斗插頭、天然石、烤爐石、木材、橡膠和水泥等，在低于0.1MHz的頻率下利用發(fā)射器探頭和接收器探頭進(jìn)行信號傳輸。USD10NF特別適合于這類任務(wù)。
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- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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產(chǎn)品分類
