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V214-BA-RM探傷儀探頭美國(guó)泛美
產(chǎn)品型號(hào)： V214-BA-RM 品 牌： 美國(guó)泛美 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地： 廣東深圳 更新日期： 2026-05-25 詳細(xì)信息品牌：美國(guó)泛美 型號(hào)：V214-BA-RM 加工定制：否 類型：超聲波 測(cè)量范圍：20*22 分辨率：20*22 尺寸：12 mm 重量：0.05 kg 分辨率：20*22 V214-BA-RM探傷儀探頭美國(guó)泛美
高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。
應(yīng)用
• 高分辨率缺陷探測(cè)，如：微孔隙檢測(cè)或微裂紋檢測(cè)。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測(cè)量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對(duì)陶瓷及高級(jí)工程材料進(jìn)行檢測(cè)。
• 可對(duì)材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。
優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了極佳的時(shí)間分辨率。
• 短波長(zhǎng)可獲得極強(qiáng)的缺陷分辨率能力。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
高頻接觸式
• 使用直接接觸檢測(cè)法時(shí)，利用永久熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評(píng)價(jià)、材料分析或厚度測(cè)量。
• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。
• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）。
訂購(gòu)型號(hào)如下：
若需要更高頻率的探頭，請(qǐng)與我們聯(lián)系:頻率 標(biāo)稱
晶片尺寸延遲 探頭
工件編號(hào)MHz 英寸 毫米 微秒 20 0.25 6 4.25 V212-BA-RM 0.25 6 4.25 V212-BB-RM 0.25 6 2.5 V212-BC-RM 30 0.25 6 4.25 V213-BA-RM 0.25 6 4.25 V213-BB-RM 0.25 6 2.5 V213-BC-RM 50 0.25 6 4.25 V214-BA-RM 0.25 6 4.25 V214-BB-RM 0.25 6 2.5 V214-BC-RM 0.125 3 4.25 V215-BA-RM 0.125 3 4.25 V215-BB-RM 0.125 3 2.5 V215-BC-RM 75 0.25 6 2.5 V2022 (BC) 0.125 3 2.5 V2025 (BC) 100 0.125 3 4.25 V2054 (BA) 0.125 3 2.5 V2012 (BC) 125 0.125 3 2.5 V2062
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聯(lián)系方式
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
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http://m.zghigo.cn
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
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- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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