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D798-SM超聲波探頭美國泛美
詳細(xì)信息| 詢價留言品牌：美國泛美 型號：D798-SM 加工定制：否 類型：超聲波 測量范圍：10 分辨率：20*22 尺寸：12 mm 重量：0.05 kg 分辨率：20*22 D798-SM超聲波探頭美國泛美
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了極佳的時間分辨率。
• 短波長可獲得極強(qiáng)的缺陷分辨率能力。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應(yīng)用
• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對陶瓷及高級工程材料進(jìn)行檢測。
• 可對材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。
用于測厚儀的雙晶探頭
Olympus NDT提供與腐蝕測厚儀一起使用的完整系列的雙晶和單晶探頭。這類探頭大多數(shù)都具有自動探頭識別功能，可以針對每種探頭*大程度地發(fā)揮測厚儀的性能。這些探頭具有各種頻率、尺寸及抗溫能力，可為大多數(shù)腐蝕應(yīng)用提供現(xiàn)貨供應(yīng)的解決方案。請注意：可以在用戶要求并額外付費(fèi)的情況下提供TP103 認(rèn)證。
具體型號規(guī)格有:探頭工件編號 頻率 尖端直徑 連接器
類型連接器位置 鋼中范圍 溫度范圍 連接桿 MHz 英寸 毫米 英寸 毫米 °F °C D790 5 0.434 11 密封 平直 0.040 - 20 1.0 - 508 -5～932 -20～500 F152 D790-SM 5 0.434 11 Microdot 平直 0.040 - 20 1.0 - 508 -5～932 -20～500 F152 D790-SL 5 0.434 11 LEMO 00 平直 0.040 - 20 1.0 - 508 -5～932 -20～500 F152 D790-RL 5 0.434 11 LEMO 00 直角 0.040 - 20 1.0 - 508 -5～932 -20～500 - D791 5 0.434 11 密封 直角 0.040 - 20 1.0 - 508 -5～932 -20～500 F153 D791-RM 5 0.434 11 Microdot 直角 0.040 - 20 1.0 - 508 -5～752 -20～400 - D792 10 0.283 7.2 密封 平直 0.020 - 1 0.5 - 25 32～122 0～50 F150 D793 10 0.283 7.2 密封 直角 0.020 - 1 0.5 - 25 32～122 0～50 F151 D794 5 0.283 7.2 密封 平直 0.030 - 2 0.75 - 50 32～122 0～50 F150 D795 5 0.283 7.2 密封 直角 0.030 - 2 0.75 - 50 32～122 0～50 F151 D797 2 0.9 22.9 密封 直角 0.150 - 25 3.8 - 635 -5～752 -20～400 - D797-SM 2 0.9 22.9 Microdot 平直 0.150 - 25 3.8 - 635 -5～752 -20～400 - D7226 7.5 0.35 8.9 密封 直角 0.028 - 4 0.71 - 100 -5～300 -20～150 - D798-LF 7.5 0.35 8.9 密封 直角 0.028 - 4 0.71 - 100 -5～300 -20～150 - D798 7.5 0.283 7.2 密封 直角 0.028 - 4 0.71 - 100 -5～300 -20～150 - D798-SM 7.5 0.283 7.2 Microdot 平直 0.028 - 4 0.71 - 100 -5～300 -20～150 - D799 5 0.434 11 密封 直角 0.040 - 20 1.0 - 508 -5～300 -20～150 - MTD705 5 0.2 5.1 Lepra/Con 直角 0.040-0.75 1.0 - 19 32～122 0～50 -
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
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計(jì)量測試儀
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光纖通信測試
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電子電工測試儀
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其他
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