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紙張測厚儀MX-1100美國Oakland

產(chǎn)品型號：

MX-1100

品牌：

美國Oakland

價格電議,您可以向供應(yīng)商詢價得到該產(chǎn)品價格

所在地：

廣東深圳

更新日期：

2026-05-25

詳細(xì)信息

紙張測厚儀MX-1100美國Oakland簡介：

儀器特性：

■操作簡單三種操作模式：手動，數(shù)字和軟件�？赏饨哟蛴C(jī)或第三方軟件以顯示分析圖表和統(tǒng)計值。
■提供離散點測量和厚度輪廓測量測頭可自動升降。
■豐富的擴(kuò)展功能可外接打印機(jī)，電腦和*軟件。

泰立儀器代理銷售全球各大品牌：超聲波測厚儀，涂層測厚儀，紙張測厚儀，薄膜測厚儀。
可測樣品	所有的薄膜和薄片材料
測量范圍	0 - 50mil，0 - 100mil，0 - 200mil，0 - 300mil 或0 - 1270um，0 - 2540um，0 - 5080um，0 - 7620um 或0 - 1.3mm，0 - 2.5mm，0 - 5.0mm，0 - 7.5mm 或其他測量范圍當(dāng)訂購公制單位時，請指定um或mm顯示
行程（探頭縮回高度）	對應(yīng)的測量范圍加1270um - 2540um 分辨率：0.01mil或0.1um或0.001mm，量程在0 - 200mil時； 0.1mil或1um或0.001mm，量程在0 - 300mil時。
精度	+/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm
平行度	+/-1.0um或更好
測頭尺寸	直徑4.3mm（薄膜）直徑15.9mm（紙張）或針對其他材料的其他尺寸
測頭壓力	4.0 - 8.0psi（0.562kg/cm²），薄膜 7.3psi（0.513kg/cm²），紙張或針對其他材料的其他設(shè)置
循環(huán)速率	20/分鐘（40/分鐘，可選），薄膜 20/分鐘（12/分鐘，可選），紙張或針對其他材料的其他設(shè)置
下落速率	1mm/sec，紙張
儀器尺寸（寬x長x高）	25 x 25 x 28 cm
標(biāo)準(zhǔn)配置	主機(jī)，標(biāo)準(zhǔn)厚度片，腳踏開關(guān)
選配件	打印機(jī)，質(zhì)量控制軟件（Quality Control Software）
符合標(biāo)準(zhǔn)	ASTM D 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370

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